| 発表者 | 論文題目 | 日時 | 場所 |
|---|---|---|---|
| 李 浩準 | Study on growth of orientation-controlled GaN films on Si(001) for optoelectronic applications (オプトエレクトロニクスアプリケーションに向けたSi(001)上GaN配向制御に関する研究) |
平成29年8月25日(金) 15時30分～16時30分 |
IB電子情報館 IB011講義室 |
| 淺井 裕介 | マルチキャリア変調を用いた空間多重無線システムのための伝搬路トラッキング技術 (Channel tracking techniques for spatial multiplexing wireless systems using multicarrier modulation) |
平成29年8月25日(金) 15時30分～17時00分 |
IB電子情報館 創造工学センター |
| 柳 至 | Study on fabrication and analysis of solid-state nanopores for direct DNA sequencing (DNA直接解読に向けたソリッドステートナノポアの作製と解析の研究) |
平成30年1月12日(金) 14時00分～16時00分 |
IB電子情報館電気系会議室 |
| 志賀 孝広 | ベータ回帰を用いた確率的日射量予測手法の構築 (Development of probabilistic solar irradiation forecast based on beta regression) |
平成30年2月27日(火) 10時30分～12時00分 |
IB電子情報館 IB071講義室 |
| 天野 智貴 | Synthesis of carbon nanomaterials by using in-liquid plasma and its application to fuel cell (液中プラズマを用いたカーボンナノ材料の合成と燃料電池応用) |
平成30年2月27日(火) 9時00分～10時30分 |
ES総合館 ES021講義室 |
| 安藤 睦 | Study on synthesis of carbon-nanomaterials in high-density media plasma processes (高密度プラズマプロセス中におけるカーボンナノ材料合成に関する研究) |
平成30年2月27日(火) 14時30分～16時00分 |
ES総合館 ES021講義室 |
| 笹井 建典 | スロット励起高密度マイクロ波プラズマの生成と樹脂表面処理への応用に関する研究 (Study on Production of High Density Microwave Plasma with Slot-excited Antenna and its Application to Polymer Surface Treatment) |
平成30年2月27日(火) 16時00分～17時30分 |
ES総合館 ES021講義室 |
| 髙橋 洋平 | 大気圧マイクロ波励起プラズマを用いた癌細胞選択的抗腫瘍効果に関する研究 (Study on selective antitumor effect by atmospheric microwave-excited pressure plasma) |
平成30年2月21日(水) 16時30分～18時00分 |
ES総合館 ES会議室 |
| 滝谷 貴史 | アクティブ磁気シールドによるMIグラジオメータの高性能化 (Improve Performance of MI Gradiometer with Active Magnetic Shielding) |
平成30年2月23日(金) 13時00分～14時30分 |
IB電子情報館 電気系会議室 |
| 村手 宏輔 | テラヘルツ波パラメトリック発生及び応用に関する研究 (A study on injection-seeded terahertz-wave parametric generation and applications) |
平成30年2月22日(木) 17時00分～18時00分 |
工学部3号館 北棟318号室 |
| 王 可望 | Development of Brain Activity Measurement System based on Highly Sensitive Magneto-Impedance Sensor (高感度MIセンサによる脳波計測の高度化とその応用に関する研究) |
平成30年2月23日(金) 15時00分～16時30分 |
IB電子情報館 電気系会議室 |
| 張 彦 | Measurement and analysis of plasma induced damages on fabrication processes of ultra large scale integrated circuits (大規模集積回路製造プロセスにおけるプラズマ誘起ダメージの計測と解析) |
平成30年2月27日(火) 10時30分～12時00分 |
ES総合館 ES021講義室 |
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